งานนำเสนอกำลังจะดาวน์โหลด โปรดรอ

งานนำเสนอกำลังจะดาวน์โหลด โปรดรอ

การเสื่อมสภาพของแผง เซลล์แสงอาทิตย์ The Deterioration of Solar Cells โดย... นายบัณฑูร เวียงมูล อาจารย์ที่ปรึกษา ดร. กฤษณพงศ์ กีรติกร อาจารย์ที่ปรึกษาร่วม.

งานนำเสนอที่คล้ายกัน


งานนำเสนอเรื่อง: "การเสื่อมสภาพของแผง เซลล์แสงอาทิตย์ The Deterioration of Solar Cells โดย... นายบัณฑูร เวียงมูล อาจารย์ที่ปรึกษา ดร. กฤษณพงศ์ กีรติกร อาจารย์ที่ปรึกษาร่วม."— ใบสำเนางานนำเสนอ:

1 การเสื่อมสภาพของแผง เซลล์แสงอาทิตย์ The Deterioration of Solar Cells โดย... นายบัณฑูร เวียงมูล อาจารย์ที่ปรึกษา ดร. กฤษณพงศ์ กีรติกร อาจารย์ที่ปรึกษาร่วม ดร. ธีรยุทธ์ เจนวิทยา สายวิชาเทคโนโลยีพลังงาน คณะพลังงานและ วัสดุ มหาวิทยาลัยเทคโนโลยีพระจอมเกล้าธนบุรี ภาคการศึกษาที่ 2 ปีการศึกษา 2548 CES

2 Out line:… การรับประกันอายุการใช้งานของ เซลล์แสงอาทิตย์ การรับประกันอายุการใช้งานของ เซลล์แสงอาทิตย์ การเสื่อมสภาพของเซลล์แสงอาทิตย์ การเสื่อมสภาพของเซลล์แสงอาทิตย์ การเสื่อมสภาพเริ่มต้นและต่อเนื่อง การเสื่อมสภาพเริ่มต้นและต่อเนื่อง การตรวจสอบการเสื่อมสภาพของแผง เซลล์แสงอาทิตย์ การตรวจสอบการเสื่อมสภาพของแผง เซลล์แสงอาทิตย์ CES

3 การรับประกันอายุการใช้งานของ เซลล์แสงอาทิตย์ Table 1: Module Warranty Period by Solarex on crystalline silicon [2] Date Length of Warranty Before to to 1999 Since years 10 years 20 years 25 years The length of the standard warranty offered by Solarex on crystalline silicon power modules during this time period. In the 12 years from 1987 to 1999 the warranty period increased from 5 years to 25 years. CES

4 ระยะเวลาในการรับประกันของแผงเซลล์ แสงอาทิตย์ที่จำหน่ายในท้องตลาด (Percentage Power Reduction Allowed)[4] ManufacturerTechnologyWarranty (Years) ASE Americasmc-Si 20 ( - 20%) AstroPowerc-Si 20 ( - 20%) AstroPowerSi-Film 10 ( - 10%) BP Solarc-Si 20 ( - 20%) Evergreen Solarmc-Si 10 ( - 10%) Kyoceramc-Si 12 ( - 10%) Siemens Solarc-Si 25 ( - 20%) Siemens SolarCIS 5 ( - 10%) Solarexmc-Si 20 ( - 20%) Solarexa-Si 20 ( - 20%) United Solar Systemsa-Si 20 ( - 20%) Sandia National Laboratories,Volume 3,1999 CES

5 Cross section of typical crystalline silicon photovoltaic module [4] Supperstrate (usually tempered glass) Supperstrate (usually tempered glass) A polymer encapsulant (usually Ethylene-vinyl acetate [EVA]) A polymer encapsulant (usually Ethylene-vinyl acetate [EVA]) Copper interconnection ribbons, solder bonds, solar cells Copper interconnection ribbons, solder bonds, solar cells A back sheet (typically Tedlar or glass) A back sheet (typically Tedlar or glass) “Module Durability research at Sandia is discussed”, CES

6 การเสื่อมสภาพมีหลายสาเหตุแบ่ง ได้ดังนี้ การเสื่อมสภาพจากความขุ่นมัวของกระจก glass superstrate การเสื่อมสภาพจากความขุ่นมัวของกระจก glass superstrate การเสื่อมสภาพจากความขุ่นมัวและการ เปลี่ยนสีของ encapsulant และ delamination การเสื่อมสภาพจากความขุ่นมัวและการ เปลี่ยนสีของ encapsulant และ delamination การเสื่อมสภาพของ Conductive Adhesive Systems การเสื่อมสภาพของ Conductive Adhesive Systems การเสื่อมสภาพของ back sheet การเสื่อมสภาพของ back sheet CES

7 Types of Field Failures Observed, BP Solar, [2] Types of Failures % of Total Failures Corrosion Cell or Interconnect Break Output Lead Problem Junction Box Problem Delamination Overheated wires, diodesor terminal strip Mechanical Damage Defective Bypass Diodes CES

8 optical transparency โดยทั่วไปความขุ่นมัวของกระจกเกิดจาก ฝุ่น ออกไซด์ หรือ หินปูนที่มาจากน้ำที่ใช้ ทำความสะอาดที่ยึดเกาะกับผิวกระจกเป็น คราบ ตั้งแต่ปี ค. ศ กระจกที่ใช้ สำหรับเซลล์แสงอาทิตย์จะเจือสาร cerium (Ce) ลงไปในการป้องกันรังสี UV และเพื่อป้องกันการเสื่อมสภาพของ โพลิ เมอร์ โดยทั่วไปความขุ่นมัวของกระจกเกิดจาก ฝุ่น ออกไซด์ หรือ หินปูนที่มาจากน้ำที่ใช้ ทำความสะอาดที่ยึดเกาะกับผิวกระจกเป็น คราบ ตั้งแต่ปี ค. ศ กระจกที่ใช้ สำหรับเซลล์แสงอาทิตย์จะเจือสาร cerium (Ce) ลงไปในการป้องกันรังสี UV และเพื่อป้องกันการเสื่อมสภาพของ โพลิ เมอร์ CES

9 Spectral Transmittance [1] Spectral Transmittance [1] พบว่าแสงที่ผ่านมายังเซลล์สามมารถผ่านเข้ามาได้ 96 % และสูญเสีย 4 % ที่ผิวด้านบนของวัสดุ พบว่าแสงที่ผ่านมายังเซลล์สามมารถผ่านเข้ามาได้ 96 % และสูญเสีย 4 % ที่ผิวด้านบนของวัสดุ Spectral hemispherical transmittance of module superstrate materials including recent vintage AFG SoliteÔ glass samples with and without Ce additive, field-aged 1989-vintage AFG glass sample, and DuPont TefzelÔ polymer sample. CES

10 การเสื่อมสภาพจากการเปลี่ยนสีของ encapsulant [1] การเสื่อมสภาพของความขุ่นมัวและการเปลี่ยนสีของ encapsulant ซึ่งส่วน ใหญ่จะเป็น EVA สีที่เปลี่ยนจะเป็นสีน้ำตาลแดง สาเหตุมาจากการได้รับรังสี UV(< 400 nm) ซึ่งรังสี UV นี้จะไปเปลี่ยนโครงสร้างของ EVA เป็นที่รู้จักใน นาม cosmetic effect ผลที่เกิดขึ้นจะทำให้กำลังไฟฟ้าลดลงเล็กน้อย ดังนั้น จึงได้มีการปรับปรุงไห้ EVA มีคุณสมบัติป้องกันการเสื่อมสภาพนี้ทำให้ได้ “fast-cure” EVA (15295) การเสื่อมสภาพของความขุ่นมัวและการเปลี่ยนสีของ encapsulant ซึ่งส่วน ใหญ่จะเป็น EVA สีที่เปลี่ยนจะเป็นสีน้ำตาลแดง สาเหตุมาจากการได้รับรังสี UV(< 400 nm) ซึ่งรังสี UV นี้จะไปเปลี่ยนโครงสร้างของ EVA เป็นที่รู้จักใน นาม cosmetic effect ผลที่เกิดขึ้นจะทำให้กำลังไฟฟ้าลดลงเล็กน้อย ดังนั้น จึงได้มีการปรับปรุงไห้ EVA มีคุณสมบัติป้องกันการเสื่อมสภาพนี้ทำให้ได้ “fast-cure” EVA (15295) Optical durability of the combination of a Ce-doped AFG glass superstrate and fast- cure EVA (15295) encapsulant is demonstratedby negligible loss in module short-circuit current over 7 years of continuous outdoor exposure in Albuquerque, New Mexico. [1] CES

11 Encapsulant Elasticity [1] Measurements of tensile modulus of elasticity for unexposed standard-cure EVA sample and on a similar sample from a module after 7 years of exposure in the Fiji Islands. CES

12 Module delamination [4] Module delamination resulting from extended field exposure often initially occurs adjacent to cell interconnect ribbons.[4] “Module Durability research at Sandia is discussed”, A common observation has been that delamination is more frequent and more severe in hot and humid climates, sometimes occurring after less than five years of exposure. Delamination first causes a performance loss due to optical decoupling of the encapsulant from the cells. CES

13 Back sheet ใช้สำหรับป้องกัน encapsulant ป้องกันความชื้น และอากาศเข้าไปในเซลล์ ส่วนใหญ่ จะเป็น Tedlar ® polyvinyl fluoride (PVF) [16], Poly Ethylene Teraphthalate (PET), Tedlar ® /PET/EVA (TPE), Tedlar ® /Al/Tedlar ® (TAT), TruSeal LAF ใช้สำหรับป้องกัน encapsulant ป้องกันความชื้น และอากาศเข้าไปในเซลล์ ส่วนใหญ่ จะเป็น Tedlar ® polyvinyl fluoride (PVF) [16], Poly Ethylene Teraphthalate (PET), Tedlar ® /PET/EVA (TPE), Tedlar ® /Al/Tedlar ® (TAT), TruSeal LAF CES Splitting delamination of the back-sheet(left), water penetration corresponding to the tedlar back sheet datachement in a 21-year old ASI module(right). [8]

14 14 Evaluation of Factors Influencing Electrical Performance Measured resistance of samples with a 1 cm 2 contact area in 85 o C/85% humidity damp/heat test. A symbolic representation of the Conducting mechanism of conductive epoxy adhesives.

15 Metallurgical Analysis of Solder Bonds [4] ตัวเชื่อมต่อระหว่าง ribbon กับเซลล์จะเป็น electrically conductive adhesive (ECA) เช่น Pb40Sn60, Silver-loaded epoxy resin, Sn96.5Ag3.5 โดยใช้กระบวนการ Solding processes อุณหภูมิที่ใช้ จะอยู่ในช่วง o C CES Conductive Adhesive Systems

16 16 Metallurgical Analysis of Solder Bonds [1] Cross-sections of solder bonds in modules from four different manufacturers. From top, layers are copper ribbon, solder, cell metallization, cell, cell metallization, solder, and copper ribbon.

17 INITIAL DEGRADATION The photon degradation of mono crystalline silicon solar cells.[3] Summary of the degradation in P max after the Outdoor Exposure test for 66 module types tested at JRC Ispra,1995.[3] estimate 2.6% photon degradation and 1.3% deviation from declared power CES

18 CONTINUOUS DEGRADATION [3] The crystalline silicon array in question uses Arco Solar ASI modules. The array was installed in March 1982, and a sample set of 18 modules were then measured at JRC in October 1982 to The causes for degradation in continuous operation can be many. Some examples taken from the JRC outdoor test site are, severe discoloration, delamination, cracking of cover glass, splitting of back- sheets, wiring degradation and junction box fail CES degradation rate of 0.4% per annum.

19 19 แสดงปรากฏการณ์การเสื่อมสภาพจากการ ใช้งานและการเร่งการทดสอบแผงเซลล์ แสงอาทิตย์ [2] Field Failure Failure Mechanis m Accelerat ed Test Interconnect Breakage Thermal expansion & contraction Thermal Cycle Delaminatio n of Encapsula nt Moisture Penetration Humidity Freeze Corrosion of Cell Metallizatio n Moisture Penetration Damp Heat การตรวจสอบการเสื่อมสภาพของแผง เซลล์แสงอาทิตย์

20 20 IEC 61215, “Crystalline silicon terrestrial photovoltaic modules – Design qualification and type approval” หรือ IEC “Thin-film terrestrial photovoltaic modules – Design qualification and type approval” กระบวนการทดสอบหลักมีอยู่ 3 กระบวนการดังนี้ [1] กระบวนการทดสอบหลักมีอยู่ 3 กระบวนการดังนี้ [1] 200 thermal cycles, (from –40 to +85 °C until it starts to experience failures, 6h/cycle) 200 thermal cycles, (from –40 to +85 °C until it starts to experience failures, 6h/cycle) humidity freeze cycles (from –40 to +85 °C until it starts to experience failures, °C RH 85% + 5% 10cycle) humidity freeze cycles (from –40 to +85 °C until it starts to experience failures, °C RH 85% + 5% 10cycle) และ 1000 hours of damp heat (exposure at 85 °C and 85% relative humidity) และ 1000 hours of damp heat (exposure at 85 °C and 85% relative humidity) กระบวนการทดสอบสำหรับ Superstrate materials มีการ ทดสอบความแข็งแรงเชิงกล และ ความทนทานต่อการ กระแทกของแผง [1] กระบวนการทดสอบสำหรับ Superstrate materials มีการ ทดสอบความแข็งแรงเชิงกล และ ความทนทานต่อการ กระแทกของแผง [1] mechanical loading mechanical loading twisting, twisting, ice-ball (hail) impact tests (3) ice-ball (hail) impact tests (3) and hot spot. and hot spot.

21 Superstrate materials ใช้สำหรับปิดเซลล์แสงอาทิตย์ โดยทั่วไปจะ เป็น กระจก tempered และมีส่วนผสมของ เหล็กน้อยหรือ low-iron ผิวด้านหนึ่งเรียบอีก ต้านขรุขระ และมีความหนา 3.2 mm ใช้สำหรับปิดเซลล์แสงอาทิตย์ โดยทั่วไปจะ เป็น กระจก tempered และมีส่วนผสมของ เหล็กน้อยหรือ low-iron ผิวด้านหนึ่งเรียบอีก ต้านขรุขระ และมีความหนา 3.2 mm วัตถุประสงค์ของการใช้กระจกมีดังนี้ วัตถุประสงค์ของการใช้กระจกมีดังนี้ เพื่อความแข็งแรงของวัสดุ (mechanical rigidity) เพื่อความแข็งแรงของวัสดุ (mechanical rigidity) เพื่อทนต่อแรงกระแทก (impact resistance) เพื่อทนต่อแรงกระแทก (impact resistance) ความโปร่งใส (optical transparency) ความโปร่งใส (optical transparency) เป็นฉนวนทางไฟฟ้า (electrical isolation of the solar cell circuit) เป็นฉนวนทางไฟฟ้า (electrical isolation of the solar cell circuit) และทนต่อสภาวะแวดล้อม (outdoor weather ability) และทนต่อสภาวะแวดล้อม (outdoor weather ability) CES

22 22 Impact Resistance [4] Impact Resistance [4] การทนต่อแรงกระแทก ของแผงเซลล์ที่ยอมรับ ได้ ในการทดสอบจะใช้ ลูกบอลน้ำแข็งขนาดเส้น ผ่านศูนย์กลางขนาด 2.54-cm น้ำหนักขนาด (8gram ) ยิงกระแทก ด้วยความเร็ว 23 m/s. ที่ มุมตั้งฉากกับกระจก สำหรับก้อนน้ำแข็งที่ใช้ ทดสอบจะใช้น้ำหนัก ขนาด (2 to 4 gram) และใช้ความเร็วในการชน กระจก 10 to 15 m/s การจารณานี้จาก ประมาณ พายุทีมีค่าน้อย กว่า 25 m/s การทนต่อแรงกระแทก ของแผงเซลล์ที่ยอมรับ ได้ ในการทดสอบจะใช้ ลูกบอลน้ำแข็งขนาดเส้น ผ่านศูนย์กลางขนาด 2.54-cm น้ำหนักขนาด (8gram ) ยิงกระแทก ด้วยความเร็ว 23 m/s. ที่ มุมตั้งฉากกับกระจก สำหรับก้อนน้ำแข็งที่ใช้ ทดสอบจะใช้น้ำหนัก ขนาด (2 to 4 gram) และใช้ความเร็วในการชน กระจก 10 to 15 m/s การจารณานี้จาก ประมาณ พายุทีมีค่าน้อย กว่า 25 m/s “Module Durability research at Sandia is discussed”, CES

23 23 Encapsulant Materials EVA browning patterns highlighted by illumination with 375-nm lamp. Damaged EVA fluoresces producing rectangular regions shown on cells in 1984-vintage module at right. Unexposed cells at left. [4] วัตถุประสงค์ เพื่อยึดเหนี่ยว หรือ laminate แต่ละชั้นของแผง โซล่าเซลล์เข้าด้วยกัน โดยมีคุณสมบัติ High optical Transmittance มีการยึดเหนี่ยวติดแน่นในวัสดุต่างชนิดกัน มีความยืดหยุ่นเพียงพอสำหรับ Stress ที่เกิดจาก Thermal Expansion มีความเป็นฉนวนที่ดี “ ตัวอย่างของวัสดุ Encapsulate ได้แก่ polyvinyl butyral, silicone rubber, ethylene-vinyl-acetate (EVA)” CES

24 24 Optical Losses in Encapsulant [4] EVA browning patterns highlighted by illumination with 375-nm lamp. Damaged EVA fluoresces producing rectangular regions shown on cells in 1984-vintage module at right. Unexposed cells at left. [4] Illuminate the module with a 375-nm hand-held UV lamp. If the EVA has degraded, it will fluoresce over a wide wavelength range looking “white“ CES

25 25 New diagnostic technique that has helped identify multiple factors contributing to loss of encapsulant adhesion. [4] Typical measurements for unexposed modules resulted in peak shear stress in the range of 3 to 6 MPa for EVA encapsulant, and greater than 15 MPa for non-EVA encapsulants. After field exposure, this adhesive (shear) strength drops, reaching value of zero when delamination occurs. CES

26 26 Moisture Migration in Encapsulant [4] Close-up of moisture sensing semiconductor chip embedded in EVA between silicon cell and glass superstrate. “Module Durability research at Sandia is discussed”, CES

27 27 Thermal infrared imaging [4] Thermal infrared imaging [4] Thermal infrared image of 36-cell module with abnormally resistive solder bonds. The procedure involves connecting a module to a power supply with the module in a forward-biased condition electrically. The power supply provides a continuous current through the module at a level between one and three times the nameplate short-circuit current. CES

28 การรับประกันอายุเฉลี่ยของเซลล์ที่ 20 ปี กำลังไฟฟ้าจะลดลงไม่เกิน 20%[4] การรับประกันอายุเฉลี่ยของเซลล์ที่ 20 ปี กำลังไฟฟ้าจะลดลงไม่เกิน 20%[4] สาเหตุของการเสื่อมสภาพมาจากหลายปัจจัยเช่น ความขุ่นมัวของกระจก glass superstrate ความ ขุ่นมัวและการเปลี่ยนสีของ encapsulant และ delamination การเสื่อมสภาพของ Conductive Adhesive Systems และ การเสื่อมสภาพของ back sheet สาเหตุของการเสื่อมสภาพมาจากหลายปัจจัยเช่น ความขุ่นมัวของกระจก glass superstrate ความ ขุ่นมัวและการเปลี่ยนสีของ encapsulant และ delamination การเสื่อมสภาพของ Conductive Adhesive Systems และ การเสื่อมสภาพของ back sheet การเสื่อมสภาพส่วนใหญ่เป็น Corrosion Cell or Interconnect Break การเสื่อมสภาพส่วนใหญ่เป็น Corrosion Cell or Interconnect Break ตั้งแต่ปี ค. ศ กระจกที่ใช้สำหรับเซลล์ แสงอาทิตย์จะเจือสาร cerium (Ce) ลงไปในการ ป้องกันรังสี UV และเพื่อป้องกันการเสื่อมสภาพ ของ โพลิเมอร์ ตั้งแต่ปี ค. ศ กระจกที่ใช้สำหรับเซลล์ แสงอาทิตย์จะเจือสาร cerium (Ce) ลงไปในการ ป้องกันรังสี UV และเพื่อป้องกันการเสื่อมสภาพ ของ โพลิเมอร์ การเสื่อมสภาพมีในลักษณะเริ่มต้นและ แบบต่อเนื่อง จะลดกำลังไฟฟ้าลงในอัตรา 0.4% per annum [3] การเสื่อมสภาพมีในลักษณะเริ่มต้นและ แบบต่อเนื่อง จะลดกำลังไฟฟ้าลงในอัตรา 0.4% per annum [3] บทสรุป CES

29 29  ปรากฏการณ์การเสื่อมสภาพจากการใช้ งานและการเร่งการทดสอบแผงเซลล์ แสงอาทิตย์  การเสียหายในลักษณะ Interconnect Breakage เกิดจากปรากฏการณ์ Thermal expansion & contraction ใช้กระบวนการเร่ง การทดสอบโดย Thermal Cycle  การเสียหายในลักษณะ Delamination of Encapsulant เกิดจากปรากฏการณ์ Moisture Penetration ใช้กระบวนการเร่งการทดสอบ โดย Humidity Freeze  การเสียหายในลักษณะ Corrosion of Cell Metallization เกิดจากปรากฏการณ์ Moisture Penetration ใช้กระบวนการเร่ง การทดสอบโดย Damp Heat บทสรุป ต่อ CES

30 References 1) D. L. King, M. A. Quintana, J. A. Kratochvil, D. E. Ellibee, and B. R. Hansen, “Photovoltaic Module Performance and Durability Following Long-Term Field Exposure”, Sandia National Laboratories, Albuquerque, NM ) John H. Wohlgemuth, “Long Term Photovoltaic Module Reliability”, NCPV and Solar Program Review Meeting 2003, BP Solar, 630 Solarex Court, Frederick, MD ) Ewan D. Dunlop European Commission, Joint Research Centre, “LIFETIME PERFORMANCE OF CRYSTALLINE SILICON PV MODULES”, Institute for Environment and Sustainability, Renewable Energies Unit TP 450, via E. Fermi 1, I Ispra (Va), Italy 4) “Module Durability research at Sandia is discussed”, Sandia National Laboratories, Volume 3, ) D.W.K. Eikelboom, at.all, “CONDUCTIVE ADHESIVES FOR LOW-STRESS INTERCONNECTION OF THIN BACK-CONTACT SOLAR CELLS”, ECN Solar Energy, PO Box 1,1755 ZG Petten, The Netherlands. 6) Ewan D. Dunlop European Commission, Joint Research Centre, “LIFETIME PERFORMANCE OF CRYSTALLINE SILICON PV MODULES”, Institute for Environment and Sustainability, Renewable Energies Unit TP 450, via E. Fermi 1, I Ispra (Va), Italy 7) C.R. Osterwald, J. Pruett, and T. Moriarty, “CRYSTALLINE SILICON SHORT-CIRCUIT CURRENT DEGRADATION STUDY: INITIAL RESULTS”, National Renewable Energy Laboratory (NREL), Golden, CO ) C.R. Osterwald, A. Anderberg, S. Rummel, and L. Ottoson, “Degradation Analysis of Weathered Crystalline-Silicon PV Modules”, NREL/CP , the 29th IEEE PV Specialists Conference New Orleans, Louisiana May 20-24, ) D. Chianese, A. Realini, N. Cereghetti, S. Rezzonico, E. Burà, G. Friesen, A. Bernasconi, ”ANALYSIS OF WEATHERED c-Si PV MODULES”, LEEE-TISO, University of Applied Sciences of Southern Switzerland (SUPSI), DCT, Via Trevano, 6952 Canobbio, Switzerland 10) Thermal recovery effect on light-induced degradation of amorphous silicon solar module under the sunlight Takeharu Yamawaki a'*, Seishiro Mizukami a, Akifumi Yamazaki b, Haruo Takahashi b Electronic Materials Researching Laboratories, Kaneka Corporation, Hieitsuji, Otsu, Shiga, Japan b Department of Electrical Engineering, Nara National College of Technology, Yamatokoriyama, Nara, Japan 11) ANALYSES OF FIELD TEST DATA FOR AMORPHOUS SILICON PV ARRAY Y. ICHIKAWA, M. TANDA and H. SAKAI Functional Device Laboratory, Fuji Electric Corp. Research and Development, Ltd Nagasaka, Kanagawa, Yokosuka , Japan CES


ดาวน์โหลด ppt การเสื่อมสภาพของแผง เซลล์แสงอาทิตย์ The Deterioration of Solar Cells โดย... นายบัณฑูร เวียงมูล อาจารย์ที่ปรึกษา ดร. กฤษณพงศ์ กีรติกร อาจารย์ที่ปรึกษาร่วม.

งานนำเสนอที่คล้ายกัน


Ads by Google