งานนำเสนอกำลังจะดาวน์โหลด โปรดรอ

งานนำเสนอกำลังจะดาวน์โหลด โปรดรอ

1 Training Document Course code : MN:CK002 Instructor : Mr. Kreangsak Traikomoot Course name : Chemical composition analysis analysis and Metallogr Metallograph&

งานนำเสนอที่คล้ายกัน


งานนำเสนอเรื่อง: "1 Training Document Course code : MN:CK002 Instructor : Mr. Kreangsak Traikomoot Course name : Chemical composition analysis analysis and Metallogr Metallograph&"— ใบสำเนางานนำเสนอ:

1 1 Training Document Course code : MN:CK002 Instructor : Mr. Kreangsak Traikomoot Course name : Chemical composition analysis analysis and Metallogr Metallograph& Metallographic Examination Division : Maintenance Picture of Instructor

2 2 Course code : MN:CK002 Chemical composition analysis & Metallographic Objective : 1.> สร้างความรู้ความเข้าใจในการวิเคราะห์ส่วนประกอบตรวจสอบ ทางเคมี และ คุณภาพของโลหะทางจุลภาค 2.> สร้างแนวคิดในการทดสอบวัสดุที่ เสียหาย Duration : 0.5 days

3 การวิเคราะห์ธาตุส่วนผสมทาง เคมี Chemical composition analysis

4 วิธีการวิเคราะห์ •XRF (X-ray fluorescence)XRF (X-ray fluorescence) •OES (Optical emission spectrometer)OES (Optical emission spectrometer) •XRD (X-ray diffraction)XRD (X-ray diffraction) •EDS/EDX (Energy dispersive spectrometer/ Energy dispersive X-ray analysis)EDS/EDX (Energy dispersive spectrometer/ Energy dispersive X-ray analysis)

5 1. XRF (X-ray fluorescence) •XRF analysis เป็นเทคนิคที่สามารถ วิเคราะห์ชนิดของธาตุ (Qualitative) และ ปริมาณธาตุ (Quantitative) • สามารถวิเคราะห์ได้ทั้งของแข็งและ ของเหลว • เป็นการทดสอบแบบไม่ทำลาย • ใช้เวลาวิเคราะห์แต่ละครั้งประมาณ 15 นาที • กรณีของแข็ง : - สามารถวิเคราะห์ได้โดยไม่ต้องมีการ เตรียมผิวมาก่อนก็ได้ - ชิ้นงานต้องมีเส้นผ่าศูนย์กลางประมาณ mm และสูงไม่เกิน 50 mm ผิวหน้า ชิ้นงานของแข็งต้องเรียบ และผ่านการขัด เงา • กรณีของเหลว : สามารถวิเคราะห์ธาตุที่มี ความเข้นข้นน้อยๆประมาณ ppm ได้

6 • ข้อจำกัดคือ ไม่สามารถวิเคราะห์ ธาตุที่มี atomic number น้อย กว่า 11 ได้ (H, He, Li, Be, B, C, N, O, F, Ne and Na) ตัวอย่างการวิเคราะห์ XRF  การวิเคราะห์เปอร์เซนต์ของธาตุ ผสมในโลหะผสม เซรามิกส์ แก้ว เป็นต้น  การวิเคราะห์ชนิดของธาตุซึ่งไม่ สามารถวิเคราะห์ได้โดยวิธีอื่น

7 •X-ray fluorescence (XRF) เป็นปรากฏการณ์ที่ เกิดขึ้นเมื่อวัสดุได้รับการกระตุ้นจาก X-rays ที่มี พลังงานสูงมากพอที่จะกระตุ้นให้ a core electron ( ชั้น K) หลุดออกมาจากวงโคจรได้ ก็จะทำให้ อิเลคตรอนจากชั้นวงนอกเข้ามาเติมช่องว่าง โดย อิเลคตรอนจะมีการปล่อยพลังงานส่วนหนึ่งออกมา ในรูปของ secondary X-ray • จำนวนพลังงานที่สามารถกระตุ้น core electron ให้หลุดออกมา (Primary x-ray) และ จำนวน พลังงานที่ปล่อยออกมา (Emitted secondary x- ray) จะเป็นค่าคงที่ของแต่ละอะตอม Ejected core electron Electron from outer shell fills the hole Secondary x- ray beam Primary x-ray beam M L K หลักการวิเคราะห์

8 Specim en X-ray sourc e X-ray detect or Inten sity Energy (wavelength ) Primary x-ray beam Secondary x- ray beam X-ray filter 1. ยิง x-ray ที่มีพลังงานเพียงพอไปกระตุ้นชิ้นงานโดยตรง 2.Secondary x-ray ถูกปล่อยออกมาจากชิ้นงานไปสู่ x-ray detector 3.X-ray detector จะวัด ค่า energy wavelength ของ K  และ K  เปรียบเทียบกับค่ามาตรฐาน

9 2. Optical Emission Spectrometer • เป็นการหาชนิด และปริมาณของ ธาตุ ได้ทั้งโลหะและอโลหะ โดยใช้ หลักการการกำเนิด X-ray โดยที่ จะเป็นการวิเคราะห์พลังงานของ X-ray ที่ได้จากผิวชิ้นงาน • สามารถวิเคราะห์ 30 ธาตุได้ใน เวลา 1-2 นาที

10 Emission of atom Emitting a Photon (E2-E1) Supplied Energy +  E Initial Energy, E1 คายพลังงาน ออกมาในรูป ของแสงมี ความยาว คลื่น Energy, E2 การเปลี่ยนแปลงพลังงานของอะตอม (Atomic Phenomenon) 2.Excitation e- 3.Emission 1.Ground state

11 แผนผังการทำงานของ Spectrometer Discharge Sample Electrode Chamber (with argon flow) Work Table Spectrometer Detector Computer software Light Emission e- แสงมีความยาวคลื่น แสงที่แยกความยาวคลื่น

12 • เมื่ออิเลคโตรดได้รับพลังงานไฟฟ้าจะ ให้กำเนิดลำอิเลคตรอน ด้วยกำลัง ประมาณ V และตกกระทบ ผิวชิ้นงาน ผ่านบรรยากาศของแก๊ส อาร์กอน • อิเลคตรอนในอะตอมของชิ้นงานที่มี ระดับพลังงานต่ำสุด ( เรียกว่า ground state ) จะถูกกระตุ้นให้มี ระดับพลังงานสูงขึ้น ( เรียกว่า Excited state) อะตอมที่อยู่ในสภาวะนี้จะไม่ เสถียร จึงพยายามลดพลังงานลงมา • จึงปลดปล่อยพลังงานส่วนเกินออกมา ในรูปของแสง (Light Emission) หรือ คลื่นแม่เหล็กไฟฟ้า ที่มีความยาวคลื่น เฉพาะตัว

13 • แสงที่เกิดขึ้นจะถูกส่งผ่านไปยังระบบ แยกความยาวคลื่นแสง ซึ่งเรียกว่า Spectrometer ซึ่งมีลักษณะเป็นเลนส์ นูน และปริซึมสามเหลี่ยม ( ผลึกของ silicon or Lithium) เพื่อให้เกิดการ หักเหของแสง เป็น Spectrum • จากนั้นแสงที่ถูกแยกความยาวคลื่น แล้วจะถูกส่งไปยัง Detector เพื่อ เปลี่ยนความเข้มแสงให้เป็น สัญญาณไฟฟ้า และระบบวิเคราะห์ สัญญาณไฟฟ้าให้เป็นความเข้มข้น ของธาตุ • โดยเปรียบเทียบกับสัญญาณของ มาตรฐานที่เราทราบความเข้มข้นที่ได้ ทำการวิเคราะห์ และบันทึกไว้ก่อนหน้า นี้

14 14 Emission Spectroscopy เป็นเทคนิคที่มีการใช้ อย่างกว้างขวาง ในการ วิเคราะห์ธาตุ ต่าง ๆ ทั้งในเชิง คุณภาพและเชิง ปริมาณ เนื่องจาก เทคนิคนี้สามารถ วิเคราะห์ธาตุได้ทั้ง โลหะและอโลหะ โดย ใช้เวลาในการ วิเคราะห์ไม่มาก และ ทำได้โดยง่าย Emission Spectroscopy

15 15 X-ray Diffraction (XRD)

16 16 X-ray Diffraction (XRD) • เป็นเทคนิคที่สามารถวิเคราะห์ชนิดของธาตุ, โครงสร้าง ผลึก แต่ไม่สามารถทราบปริมาณได้เหมือน XRF (X- ray fluorescence) • หลักการ ผิววัสดุถูกยิงด้วยรังสี X-ray และเกิดการหักเห และความเข้มข้นของพลังงาน X-ray ขึ้นโดยมีตัว Detector เป็นตัวรับสัญญาณ

17 17 XRD Pattern

18 18 EDS/EDX • เป็นเทคนิคที่สามารถวิเคราะห์ชนิดของธาตุ (Qualitative), ปริมาณธาตุ (Quantitative) และแสดงตำแหน่งของธาตุได้ • หลักการ ผิวชิ้นงานที่นำไฟฟ้าได้ถูกยิงด้วยรังสี Primary Electron beam ทำให้ ชิ้นงานแตกรังสี X-ray ออกมา • X-Ray ให้ข้อมูลลักษณะบอกเป็นธาตุที่ประกอบอยู่ในวัตถุนั้น โดยแสดงออกมาเป็นกราฟหรือพื้นที่ภาพที่แทนด้วยสีเพื่อบอก ตำแหน่งที่อยู่ของธาตุนั้นๆ • มักใช้วิธีนี้ร่วมกับ SEM

19 19 Inside Tank Outside Tank

20 20

21 21 Line Scanning Techniqu e

22 22 Mapping Technique Ti/Zr pre-treatment on 6XXX aluminium alloy.Energy dispersive X-ray mapping shows the distribution of Ti and Zr in the conversion coating oxide layer over intermetallic particles.

23 23 สรุป

24 24 Q & A


ดาวน์โหลด ppt 1 Training Document Course code : MN:CK002 Instructor : Mr. Kreangsak Traikomoot Course name : Chemical composition analysis analysis and Metallogr Metallograph&

งานนำเสนอที่คล้ายกัน


Ads by Google